1、 仪器性能特点

F-2000是我公司自主研发生产的能量色散型X荧光光谱仪，方便快捷的对多种形态样品中的元素进行快速无损分析（包括对铁基、镍基、钛基、钴基、铜基等金属材料中元素含量的检测均可实现）。

 

 

2、主要技术指标

F-2000主要技术指标包括：探测器、一体化X射线发生器

（1）探测器

F-2000选用了Si-PIN探测器，用户可根据自己的实际需要来选购。

探测器 Detector
类型	Si-PIN探测器
典型分辨率	145ev
输出计数率	30kcps
峰背比	>6200

 

 

 

 

 

（2）一体化X射线发生器

 

3、光谱分析系统控制和数据处理系统

（1）32位模/数转换器

（2）3.5寸高清显示器

（3）Atom Z510 1.1GHz处理器，1G内存

（4）8G工业级（PQI） CF卡,可以存储更多数据

（5）自定义的XPE操作系统，用户使用更方便

（6）一键式设计，测量停止只需点击一下按钮

（7）结果、谱图两种模式自由切换。结果模式测量数据每秒更新，可据数据的稳定程度随时终止测量

（8）高容量聚合物锂离子电池，可以连续使用6小时

（9）预留USB接口

4、应用领域

适用于金属合金分析、废旧金属回收、合金材料鉴别（PMI）、生产制造控制等领域。

 

5、 尺寸规格

长*宽*高：260mm*95mm*280mm

重量：约1.8kg

6、 工作环境

--温度范围：-10℃—40℃。

--相对湿度：≤80%